发明名称 一种基于PN结的硅通孔结构及其制作方法
摘要 本发明公开了基于PN结的硅通孔结构,从外到内依次设置为P型半导体衬底、N型掺杂层、介质层和金属柱,P型半导体衬底与N型掺杂层之间形成PN结空间电荷区,N型掺杂层、PN结空间电荷区及P型半导体衬底构成PN结。本发明还公开了该基于PN结的硅通孔结构的制作方法。本发明与传统同轴结构的圆柱形硅通孔相比,其采用N型掺杂层与P型半导体衬底形成PN结,在三维集成电路工作时处于反偏状态,自动实现隔离噪声的作用,达到较高的高频信号完整性。并且本发明的硅通孔结构省去了接地环节,同时减少了金属的使用,提高了热机械可靠性。
申请公布号 CN105633040A 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201610112002.9 申请日期 2016.02.29
申请人 西安理工大学 发明人 王凤娟;王刚;余宁梅
分类号 H01L23/48(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/48(2006.01)I
代理机构 西安弘理专利事务所 61214 代理人 李娜
主权项 一种基于PN结的硅通孔结构,其特征在于,从外到内依次设置为P型半导体衬底(1)、N型掺杂层(3)、介质层(4)和金属柱(5),所述P型半导体衬底(1)与N型掺杂层(3)之间形成PN结空间电荷区(2),N型掺杂层(3)、PN结空间电荷区(2)及P型半导体衬底(1)构成PN结。
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