一种单颗磨粒干涉行为测试设备

摘要

本发明公开了一种单颗磨粒干涉行为测试设备，包括光学平板、支撑系统、Y轴方向进给装置、试样夹具、工具头、Z轴设定器、Z轴设定器夹具、X轴方向进给装置、磨粒、测力系统和进给控制系统；所述测力系统包括力传感器和数据处理部分。本发明的单颗磨粒干涉行为测试设备可实现单颗或者多颗磨粒在不同干涉程度、不同划擦速度、不同划擦深度下的划擦，并能在实验过程准确采集划擦力信号，测试精度较高。

主权项

一种单颗磨粒干涉行为测试设备，其特征在于，包括：光学平板、支撑系统、Y轴方向进给装置、试样夹具、工具头、Z轴设定器、Z轴设定器夹具、X轴方向进给装置、磨粒、测力系统和进给控制系统；所述测力系统包括力传感器和数据处理部分；所述支撑系统固定光学平板上；所述X轴方向进给装置安装于支撑系统上，所述Y轴方向进给装置固定于光学平板上；所述试样夹具固定于Y轴方向进给装置上；所述Z轴设定器夹具安装在X轴方向进给装置上；所述Z轴设定器固定在Z轴设定器夹具上；所述力传感器通过Z轴设定器夹具与Z轴设定器相连；所述工具头固定在力传感器上；所述磨粒固定在工具头上；所述试样夹具上用于放置被测试材料；所述进给控制系统控制X轴方向进给装置沿X轴方向缓慢进给及Y轴方向进给装置沿Y轴方向往复运动；所述测力系统的数据数据处理部分采集力传感器的数据。