| 发明名称 | 比浊计及检测比浊计的样品试管污染的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测量样品试管(40)中的液体样品(49)的浊度的比浊计(10)。所述浊度计(10)包括：用于向试管(40)发射轴向平行光束(60)的测量光源(20)，布置为接收非轴向地来自于试管(40)的散射光(66)的散射光检测器(30)，和具有光漫射器本体(52)和漫射器致动装置(54)的可切换漫射器(50)，所述漫射器致动装置(54)用于把漫射器本体(52、52')在停放位置和位于光源(20)与试管(40)之间的测试位置之间移动，在所述停放位置时，漫射器本体(52)不与发射光束(60)干涉，在所述测试位置时，漫射器本体(52')与发射光束(60)干涉，以产生进入试管(40)的漫射测试光(63)。 | ||
| 申请公布号 | CN105637342A | 申请公布日期 | 2016.06.01 |
| 申请号 | CN201380080343.7 | 申请日期 | 2013.09.30 |
| 申请人 | 哈克兰格有限责任公司 | 发明人 | M.巴特费尔德;M.库斯曼;B.德海;B.加斯纳;F.斯坦豪尔;H-J.孔普赫;A.莱耶;M.库珀斯;A.格利茨;A.米特赖特;C.汉施克;L.海德曼斯 |
| 分类号 | G01N21/15(2006.01)I;G01N21/51(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/15(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 曲莹 |
| 主权项 | 一种用于测量样品试管(40)中的液体样品(49)的浊度的比浊计(10)，该比浊计(10)包括：用于向试管(40)发射轴向平行光束(60)的测量光源(20)；布置为从试管(40)接收散射光(66)的散射光检测器(30)；和具有光漫射器本体(52)和漫射器致动装置(54)的可切换漫射器(50)，所述漫射器致动装置(54)用于把光漫射器本体(52、52')在停放位置和位于光源(20)与试管(40)之间的测试位置之间移动，在所述停放位置时，漫射器本体(52)不与发射光束(60)干涉，在所述测试位置时，漫射器本体(52')与发射光束(60)干涉，以产生进入试管(40)的漫射测试光(63)。 | ||
| 地址 | 德国柏林 | ||