一种用于半导体材料霍尔效应测量的样品架

摘要

本实用新型公开了一种用于半导体材料霍尔效应测量的样品架。该样品架包括屏蔽外壳、铜质压片、压片固定板、压片固定柱和导线外接口；其中屏蔽外壳为铜质的方形外壳；铜质压片共有四组，对称的设置在压片固定板上，每组铜质压片由数层呈等腰梯形的铜片叠成，各铜片沿对称轴方向均开有矩形长槽，该长槽内设有压片固定柱，压片固定柱穿过压片固定板并通过导线连接到导线外接口。采用本实用新型的样品架可以提高测量工作效率，适应工业化生产的测量需求。该样品架取材容易，只需简单手工加工制作，成本低廉。

主权项

一种用于半导体材料霍尔效应测量的样品架，其特征在于，包括屏蔽外壳、铜质压片、压片固定板、压片固定柱和导线外接口；其中，屏蔽外壳为铜质的方形外壳；铜质压片共有四组，对称的设置在压片固定板上；每组铜质压片由数层呈等腰梯形的铜片叠成；各铜片沿对称轴方向均开有矩形长槽，该长槽内设有压片固定柱，该压片固定柱穿过压片固定板并通过导线连接到导线外接口。