一种电容触摸屏装置缺陷检测方法

摘要

本发明涉及一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，该装置包括电容屏、电容屏控制芯片，本发明的检测方法为：先依次驱动所有驱动线Drive Line，每次驱动一根驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值作为基准，再改变同时驱动的驱动线根数，依次驱动所有驱动线，如每次驱动2根驱动线，再次量取驱动线和感测线之间的互电容值，根据两次测量值之间的差值来判断是否有缺陷存在。

主权项

一种电容触摸屏装置缺陷检测的方法，所述装置包含一个设置有N行驱动线和M列感测线的电容触摸屏、电容屏控制芯片，所述电容触摸屏上设置有交叉放置的N根驱动线Drive Line和M根感测线Sense Line，其特征在于：首先以每次驱动一行驱动线的方式依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵C[x，y]，其中Cxy为驱动第x行驱动线，对第y列感测线扫描得到的测量值；再次同时驱动2行驱动线，依次驱动所有驱动线，得到互电容值测量矩阵C′[x，y]，其中C′xy(1＜x≤N)为同时驱动第x‑1、x行驱动线，并对第y列感测线扫描得到的测量值，C′1y为同时驱动第N、第1行驱动线，对第y列感测线扫描得到的测量值；计算差值矩阵ΔC[x，y]＝C[x，y]‑C′[x，y]，合格电容屏两次测量值差值分布在一个合理范围内，Thr1＜ΔCxy＜Thr2，Thr1和Thr2为预设的门槛值。