发明名称 一种低成本灵敏度测试装置
摘要 本实用新型公开了一种低成本灵敏度测试装置,该装置包括主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。该装置具有测试成本低、测试灵敏度高、输出功率动态范围大、收发隔离度高等特征。
申请公布号 CN205283553U 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201520969136.3 申请日期 2015.11.30
申请人 华大半导体有限公司 发明人 王宇飞;马纪丰;高峰
分类号 H04B17/15(2015.01)I;H04B17/29(2015.01)I 主分类号 H04B17/15(2015.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种低成本灵敏度测试装置,其特征在于,该装置包括主控单元、射频TR芯片、可调衰减单元与固定衰减单元,主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。
地址 201203 上海市浦东新区亮秀路112号Y1座三层305室