发明名称 |
一种低成本灵敏度测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种低成本灵敏度测试装置,该装置包括主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。该装置具有测试成本低、测试灵敏度高、输出功率动态范围大、收发隔离度高等特征。 |
申请公布号 |
CN205283553U |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201520969136.3 |
申请日期 |
2015.11.30 |
申请人 |
华大半导体有限公司 |
发明人 |
王宇飞;马纪丰;高峰 |
分类号 |
H04B17/15(2015.01)I;H04B17/29(2015.01)I |
主分类号 |
H04B17/15(2015.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种低成本灵敏度测试装置,其特征在于,该装置包括主控单元、射频TR芯片、可调衰减单元与固定衰减单元,主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区亮秀路112号Y1座三层305室 |