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Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (1) zum automatisierten Detektieren von Schadstrukturen (M) in einem elektronischen Schaltkreis, dessen Systemmodell (S) in einer Hardwarebeschreibungssprache modelliert wurde, umfassend: Erzeugen (2) eines abstrakten Syntaxbaums (AST) aus dem Systemmodell (S); Mustervergleichen (3) zumindest einer Teilstruktur des abstrakten Syntaxbaums (AST) mit zumindest einer Referenz-Schadstruktur (R i ) und, bei Übereinstimmung, Markieren der Teilstruktur als potentielle Schadstruktur (P i ); Ermitteln (5) charakteristischer Merkmale (C ij ) der potentiellen Schadstruktur (P i ), zugehöriger Eigenschaften (F ij ) und eines Zulässigkeitsbereichs (A ij ) jeder Eigenschaft (F ij ); Übersetzen der Eigenschaft (F ij ) und des Zulässigkeitsbereichs (A ij ) in eine Prüfungssprache für einen Zustandsautomaten (Z); und Prüfen eines Zustandsautomaten (Z), der durch Umwandeln des Systemmodells (S) oder des abstrakten Syntaxbaums (AST) gewonnen wurde, auf verschiedene Zustände und/oder Zustandsübergänge, wobei eine Schadstruktur (M) detektiert wird, wenn in einem Zustand und/oder Zustandsübergang eine der Eigenschaften (F ij ) den Zulässigkeitsbereich (A ij ) verlässt. |
