发明名称 基于TSV工艺的转接板深槽电容及其制造方法
摘要 本发明涉及一种基于TSV工艺的转接板深槽电容及其制造方法,其包括衬底;所述衬底具有第一主面以及与所述第一主面对应的第二主面;所述衬底掺杂区域内设有电容槽,电容槽穿过所述掺杂区域,且电容槽的槽口从第一主面指向第二主面的方向延伸,所述掺杂区域包裹在电容槽上部侧壁的周围;电容槽内设有电容介质体以及电容填充导体,所述电容填充导体通过电容介质体与电容槽的内壁相接触;衬底的第一主面上方设有第一电容连接电极及第二电容连接电极,第一电容连接电极与掺杂区域欧姆接触,第二电容连接电极与电容填充导体电连接。本发明结构紧凑,工艺步骤简便,能在转接板上制造高密度电容,工艺兼容性好,安全可靠。
申请公布号 CN103700644B 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201310719075.0 申请日期 2013.12.23
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 薛恺;于大全
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅
主权项  一种基于TSV工艺的转接板深槽电容的制造方法,其特征是,所述转接板深槽电容的制造方法包括如下步骤:(a)、提供衬底(1),所述衬底(1)具有第一主面以及与所述第一主面对应的第二主面;对衬底(1)进行掺杂,以在衬底(1)内得到掺杂区域(2),所述掺杂区域(2)从衬底(1)的第一主面指向第二主面的方向延伸;(b)、选择性地掩蔽和刻蚀上述衬底(1),以在衬底(1)内得到所需的电容槽(3)以及连接槽(12),其中,电容槽(3)位于掺杂区域(2)内,且电容槽(3)穿过掺杂区域(2),电容槽(3)的槽底位于掺杂区域(2)下方;(c)、在上述衬底(1)的第一主面上设置第一介质层(4),所述第一介质层(4)覆盖在衬底(1)的第一主面上,并覆盖电容槽(3)的内壁以及连接槽(12)的内壁;(d)、在上述衬底(1)的第一主面上设置第二介质层(5),所述第二介质层(5)覆盖在第一介质层(4)上;(e)、选择性地掩蔽和刻蚀所述第二介质层(5),去除连接槽(12)内以及衬底(1)第一主面上的对应的第二介质层(5),保留电容槽(3)内的第二介质层(5);(f)、在上述衬底(1)的第一主面上设置第三介质层(11),所述第三介质层(11)覆盖在衬底(1)第一主面上的第一介质层(4)上、连接槽(12)内的第一介质层(4)以及电容槽(3)内的第二介质层(5)上,电容槽(3)内通过第一介质层(4)、第二介质层(5)及第三介质层(11)形成电容介质体;衬底(1)第一主面上的第一介质层(4)与第三介质层(11)形成表面介质层(20);(g)、在上述衬底(1)的第一主面上电镀填充材料,所述填充材料覆盖在衬底(1)第一主面上方并填充在电容槽(3)以及连接槽(12)内;(h)、去除上述衬底(1)第一主面上的填充材料,得到位于电容槽(3)内的电容填充导体(14)以及位于连接槽(12)内的互连填充导体(13);(i)、选择性地掩蔽和刻蚀表面介质层(20),得到贯通表面介质层(20)的连接通孔(8),所述连接通孔(8)位于电容槽(3)的外侧,并位于掺杂区域(2)的正上方;(j)、在上述衬底(1)的第一主面上设置互连结构,得到第二连接体(9)、第一连接体(10)及第三连接体(15),第一连接体(10)填充在连接通孔(8)内并与掺杂区域(2)欧姆接触,第二连接体(9)与电容填充导体(14)电连接,第三连接体(15)与互连填充导体(13)电连接;(k)、在上述表面介质层(20)上设置绝缘隔离层(16)、互连连接电极(17)、第一电容连接电极(18)及第二电容连接电极(19);绝缘隔离层(16)覆盖在表面介质层(20)及第二连接体(9)、第一连接体(10)与第三连接体(15)上,互连连接电极(17)与第三连接体(15)电连接,第一电容连接电极(18)与第一连接体(10)电连接,第二电容连接电极(19)与第二连接体(9)电连接;互连连接电极(17)、第一电容连接电极(18)及第二电容连接电极(19)穿出绝缘隔离层(16)外。
地址 214000 江苏省无锡市新区太湖国际科技园菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋
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