发明名称 具有大规模制造设计的盒
摘要 本发明涉及用于样品的光学检查的盒(110)和检查设备(100)。所述盒(110)包括:透明底层(113),其厚度基本一致;以及顶层(111,112),包括样品室(SC)。底层和顶层优选地层压在彼此之上,例如以卷到卷工艺。底层(113)设置有容许光的耦入或耦出的例如光栅(115)的结构。
申请公布号 CN102985804B 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201180033853.X 申请日期 2011.07.05
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 J·J·H·B·施莱彭;A·H·J·伊明克;M·W·J·普林斯;D·J·W·克隆德
分类号 G01N21/03(2006.01)I;G01N21/77(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;B01L3/00(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/03(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 舒雄文;蹇炜
主权项 一种用于样品的光学检查的盒(110‑510),包括:a)透明底层(113‑513),其厚度的变化小于10%;b)至少一个顶层(111‑511,112‑512),其布置在所述底层之上并且包括样品室(SC),所述样品能够设置在所述样品室中;其中,所述底层(113‑513)包括光输入结构(115‑515),所述光输入结构(115‑515)用于将输入光束(L1)耦合到所述盒中并用于将所述输入光束(L1)引导至所述样品室(SC),所述光输入结构(115‑515)设计为使得通过此结构的光的至少部分在至所述样品室(SC)的界面处被全内反射。
地址 荷兰艾恩德霍芬