发明名称 |
具有大规模制造设计的盒 |
摘要 |
本发明涉及用于样品的光学检查的盒(110)和检查设备(100)。所述盒(110)包括:透明底层(113),其厚度基本一致;以及顶层(111,112),包括样品室(SC)。底层和顶层优选地层压在彼此之上,例如以卷到卷工艺。底层(113)设置有容许光的耦入或耦出的例如光栅(115)的结构。 |
申请公布号 |
CN102985804B |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201180033853.X |
申请日期 |
2011.07.05 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
J·J·H·B·施莱彭;A·H·J·伊明克;M·W·J·普林斯;D·J·W·克隆德 |
分类号 |
G01N21/03(2006.01)I;G01N21/77(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;B01L3/00(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/03(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
舒雄文;蹇炜 |
主权项 |
一种用于样品的光学检查的盒(110‑510),包括:a)透明底层(113‑513),其厚度的变化小于10%;b)至少一个顶层(111‑511,112‑512),其布置在所述底层之上并且包括样品室(SC),所述样品能够设置在所述样品室中;其中,所述底层(113‑513)包括光输入结构(115‑515),所述光输入结构(115‑515)用于将输入光束(L1)耦合到所述盒中并用于将所述输入光束(L1)引导至所述样品室(SC),所述光输入结构(115‑515)设计为使得通过此结构的光的至少部分在至所述样品室(SC)的界面处被全内反射。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |