发明名称 AlN模板、AlN模板的制备方法及AlN模板上的半导体器件
摘要 本发明公开了一种AlN模板、AlN模板的制备方法及AlN模板上的半导体器件,属于半导体技术领域。AlN模板包括:衬底和在衬底上沉积的AlN薄膜,所述AlN薄膜包括在衬底上沉积的第一AlN层,第一AlN层中掺有氧,且从第一AlN层与衬底界面到第一AlN层的表面的方向,第一AlN层中的氧的含量是逐渐减少的。半导体器件包括:AlN模板和氮化物半导体层;所述AlN模板包括衬底和在所述衬底上沉积的AlN薄膜,所述氮化物半导体层沉积在所述AlN薄膜上;所述AlN模板为前述AlN模板。方法包括:提供衬底;在衬底上沉积AlN薄膜,AlN薄膜包括在衬底上沉积的第一AlN层,第一AlN层中掺有氧,且从第一AlN层与衬底界面到第一AlN层的表面的方向,第一AlN层中的氧的含量是逐渐减少的。
申请公布号 CN105633233A 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201511029957.X 申请日期 2015.12.31
申请人 华灿光电(苏州)有限公司 发明人 董彬忠;李鹏;王江波
分类号 H01L33/12(2010.01)I;H01L33/06(2010.01)I;H01L33/32(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L33/12(2010.01)I
代理机构 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人 徐立
主权项 一种AlN模板,包括衬底和在所述衬底上沉积的AlN薄膜,其特征在于,所述AlN薄膜包括在所述衬底上沉积的第一AlN层,所述第一AlN层中掺有氧,且从所述第一AlN层与所述衬底界面到所述第一AlN层的表面的方向,所述第一AlN层中的氧的含量是逐渐减少的。
地址 215600 江苏省苏州市张家港市经济开发区晨丰公路