发明名称 具有校准装置的光学距离测量设备
摘要 本发明描述了用于光学测量至目标对象(15)距离的一种测量装置(10)。该测量装置具有一个发送装置(12),以把周期调制的光学测量射线(13)发送到一个目标对象(15),并具有一个接收装置(14),以探测从目标对象(15)返回的光学测量射线(16);并具有一个分析装置(36),以接收并分析该接收装置(14)的探测信号。另外该测量装置还具有一个校准装置(80),以校准该测量装置,其中该校准装置设计用于根据不相关射线的探测来校准该测量装置,其中该不相关射线与该发送装置所发送的调制测量射线不相关。该不相关射线在此可以以背景射线的形式而存在。或者该不相关射线可以由该发送装置来发射,并由该接收装置来探测。根据用于校准的射线的优选缺少的调制,子周期的时长可以关于其长度而被校准,其中在所述子周期期间在真正的距离测量时把探测信号进行累加。这样就可以降低在距离测量时由系统所决定的系统误差。
申请公布号 CN102656423B 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201080044801.8 申请日期 2010.09.20
申请人 罗伯特·博世有限公司 发明人 A.艾塞勒;O.沃尔斯特;B.施米特克
分类号 G01C15/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I;G01S17/36(2006.01)I;G01S17/32(2006.01)I;G01S7/497(2006.01)I 主分类号 G01C15/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 李少丹;李家麟
主权项 用于光学距离测量的测量装置(10),具有:发送装置(12),以把周期调制的光学测量射线(13)发送到目标对象(15);接收装置(14),以探测从目标对象(15)返回的光学测量射线(16);以及分析装置(36),以接收并分析该接收装置(14)的探测信号;校准装置(80),以校准该测量装置(10);其中该校准装置(80)设计用于根据不相关射线的探测来校准该分析装置(36),其中该不相关射线与该发送装置所发送的调制测量射线不相关;其中该周期调制的测量射线的一个周期被划分为多个子周期;其中该分析装置(36)设计用于,对在预定子周期上由该接收装置(12)所接收的探测信号进行累加;其中该校准装置(80)设计用于根据未调制射线的探测来校准子周期的长度。
地址 德国斯图加特