一种双面布线厚膜电路测试装置

摘要

一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：下座（1），下座上设有一组下连通片（19），下连通片上设有下弹簧针（18）、引出线（20）；上座（5），上座上设有一组上连通片（8），上连通片上设有上弹簧针（9）、连通弹簧针（7），连通弹簧针与下连通片连通；上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路（4），上弹簧针（9）和下弹簧针（18）分别和厚膜电路两面的焊盘（22）连通。由于采用了上述方案，使得本发明结构简单，可对厚膜电路正反两面进行全面检测，具有接触可靠，检测结果准确，操作简单方便等优点。

主权项

一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：下座（1），下座上设有一组下连通片（19），下连通片上设有下弹簧针（18）、引出线（20）；上座（5），上座上设有一组上连通片（8），上连通片上设有上弹簧针（9）、连通弹簧针（7），连通弹簧针与下连通片连通；上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路（4），上弹簧针（9）和下弹簧针（18）分别和厚膜电路两面的焊盘（22）连通；所述的下座（1）上设有凹槽，下连通片（19）连接在凹槽的槽底上，槽底上对应于下连通片的位置设有引线孔（21），引出线（20）从引线孔穿出，凹槽的四角设有定位台（3），厚膜电路和定位台配合，凹槽的上口还设有凹台（2），上座和凹台配合。