发明名称 |
一种基于高稳定度宽基准脉冲的精密频率测量装置 |
摘要 |
本发明公开了一种基于高稳定度宽基准脉冲的精密频率测量装置,对于直接计数法产生的相位误差具有16位的测量分辨率,可达到10ps以下的测量精度,明显优于传统的测量方法,调试简单,可实现全自动测量,无需人工操作,同时对环境温度、元器件老化、电压波动等影响因素不敏感,具有优良的稳定性,与使用锁相环的方法相比,无需锁相过程,可实现即时测量,响应速度快,结构清晰,实现方法简单,方便与其他系统结合,可应用于精密仪器、传感器网络、网络授时、精确守时等诸多领域,该装置成本低,生产调试简单,有利于实际应用,对芯片工作温度和电压稳定度不敏感,能满足更高的需求。 |
申请公布号 |
CN105629061A |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201610162667.0 |
申请日期 |
2016.03.22 |
申请人 |
桂林电子科技大学 |
发明人 |
王国富;栾岳震;叶金才;张法全;其他发明人请求不公开姓名 |
分类号 |
G01R23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R23/02(2006.01)I |
代理机构 |
桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 |
代理人 |
唐修豪 |
主权项 |
一种基于高稳定度宽基准脉冲的精密频率测量装置,其特征在于,包括时钟整形单元、开关恒流源单元、电容充电控制单元、自校准单元、ADC采样单元、主处理器单元和FPGA控制单元;FPGA控制单元与时钟整形单元、开关恒流源单元、主处理器单元相连接,时钟整形单元与基准脉冲源、被测频率源直接连接,电容充电控制单元与开关恒流源单元、自校准单元相连接,主处理器单元与ADC采样单元、自校准单元相连接,自校准单元还与ADC采样单元相连接。 |
地址 |
541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号 |