发明名称 痕量烷基汞的测定系统
摘要 本实用新型提出了一种痕量烷基汞的测定系统,包含:依次设置的一样品吸附富集装置、一样品解吸分离装置、以及一测定装置,样品吸附富集装置包含可加热的进样容器、萃取棒,样品解吸分离装置包含高温进样解吸口、色谱柱,测定装置包含依次设置的离子源、第一四级杆、六极杆碰撞池、第二四极杆、离子聚焦器、高能打拿极、电子倍增器、以及信号收集分析器。通过采用本实用新型的痕量烷基汞的测定系统,一方面大大降低了水中烷基汞的检出限、提高了测定灵敏度,另一方面,本测定系统的构成也使得测定操作更简单、便于配合自动进样器实现样品分析的自动化。
申请公布号 CN205280680U 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201521046283.X 申请日期 2015.12.14
申请人 刘晶 发明人 刘晶;尹丹莉;杨正标;吴丽娟;何青青;韩倩
分类号 G01N30/88(2006.01)I;G01N30/06(2006.01)I 主分类号 G01N30/88(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种痕量烷基汞的测定系统,包含:依次设置的一样品吸附富集装置、一样品解吸分离装置、以及一测定装置,其特征在于,所述样品吸附富集装置包含可加热的进样容器、萃取棒,所述样品解吸分离装置包含高温进样解吸口、色谱柱,所述测定装置包含依次设置的离子源、第一四级杆、六极杆碰撞池、第二四极杆、离子聚焦器、高能打拿极、电子倍增器、以及信号收集分析器。
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