发明名称 |
一种嵌入区的形成方法以及嵌入源漏的形成方法 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种嵌入区的形成方法,所述方法包括:提供衬底以及衬底上的第一结构;在位于第一结构至少一侧的衬底上形成沟槽;进行淀积,在沟槽、衬底、第一结构及第一结构侧壁上形成至少一层填充层;在位于所述沟槽上方的填充层上形成保护层;去除位于所述衬底表面以上的填充层,以使得所述填充层仅保留在所述沟槽中;去除所述保护层。由于是通过淀积的方法,衬底和填充层的材料都不受限制,可以根据器件性能需求任意配置,具有通用性。此外,在保护层的掩盖下,沟槽内的填充层不会受到中间刻蚀工艺的损伤,保证了填充层的质量。 |
申请公布号 |
CN102789984B |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201110129620.1 |
申请日期 |
2011.05.18 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
王鹤飞;骆志炯;刘佳 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
逯长明;王宝筠 |
主权项 |
一种嵌入区的形成方法,所述方法包括:提供衬底以及衬底上的第一结构;在位于所述第一结构至少一侧的衬底上形成沟槽;进行淀积,在沟槽、衬底、第一结构及第一结构侧壁上形成至少一层填充层;在位于所述沟槽上方的填充层上形成保护层;去除位于所述衬底表面以上的填充层,以使得所述填充层仅保留在所述沟槽中;去除所述保护层;形成所述保护层的步骤包括:在所述填充层的表面上形成保护层;进行平坦化处理至所述第一结构上的填充层露出;对所述保护层进行刻蚀,以使得所述保护层仅保留在所述沟槽上方的填充层上。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |