发明名称 一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法
摘要 本发明是一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法,其步骤包括:A,将光学胶合件放置在检测平台上,B,打开检测装置上的光源发生器,C,观察成像显示器出现的一条“亮”线,一条“暗”线,D,通过旋转光学胶合件,观察成像显示器,E,读出差值为光学胶合件胶层偏芯角度,本发明、设计合理新颖、操作安装方便,该发明既能使得光学镜片在生产过程中质量得以控制,又能减轻检测人员的工作压力。
申请公布号 CN105627955A 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201610004307.8 申请日期 2016.01.07
申请人 丹阳丹耀光学有限公司 发明人 周伟华;张梁
分类号 G01B11/27(2006.01)I 主分类号 G01B11/27(2006.01)I
代理机构 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人 郭俊玲
主权项 一种光学胶合件胶层偏芯的检测方法,包括以下步骤:A,将光学胶合件(5)放置在设置在所述光学胶合件(5)下端的检测平台(6)上;B,打开距离所述检测平台(6)上端40cm的光源发生器(2);C,距离所述检测平台(6)上端30cm的光感器(3)接收到反射光线:D,通过设置在光感器(3)左端的光电转换传输线(7)连接光感器(3)和显示器(1)E,观察成像显示器(1)现的一条“亮”十字线,一条“暗”十字线;F,通过旋转光学胶合件(5),观察成像显示器(1),包括以下步骤:1)通过旋转光学胶合件(5),观察成像显示器(1),如果“亮”十字线与“暗”十字线的x轴重合,读出“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值;2)通过旋转光学胶合件(5),观察成像显示器(1),如果“亮”十字线与“暗”十字线的y轴重合,读出“亮”十字线与“暗”十字线x轴之间的差值;G,所述“亮”十字线与“暗”十字线y轴之间的差值或者“亮”十字线与“暗”十字线x轴之间的差值为光学胶合件胶层偏芯角度。
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