SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

摘要

본 발명은 반도체 디바이스 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 인터포저에 하나의 반도체다이가 장착된 상태에서 반도체 디바이스의 연결 상태가 정상 상태인지 여부를 공정 중간에 테스트할 수 있으므로, 중간 공정 상태에서 이상이 발견될 경우 반도체 디바이스에 추가적으로 장착이 필요한 다른 반도체 다이의 폐기를 사전에 방지할 수 있으므로 수율을 향상시키는데 있다.