| 摘要 |
La présente invention concerne un procédé d'analyse, par spectrométrie de masse à temps de vol, d'un échantillon solide comprenant une couche organique, comprenant les étapes suivantes : a. injection, dans une enceinte à vide d'une source d'ionisation où est placé ledit échantillon, d'un flux de gaz porteur constitué d'hélium pur à basse pression; b. application, entre les électrodes de la source d'ionisation, d'une décharge électrique, pour générer, dans ladite enceinte à vide, un plasma d'hélium basse pression; c. exposition de ladite couche organique de l'échantillon audit plasma d'hélium basse pression de manière à produire, dans ledit plasma d'hélium basse pression, au moins une espèce élémentaire, moléculaire et/ou isotopique ionisée, provenant de ladite couche organique de l'échantillon; d. extraction, par spectrométrie de masse à temps de vol, d'un signal spectrométrique représentatif d'au moins une espèce élémentaire, moléculaire et/ou isotopique ionisée, provenant de ladite couche organique de l'échantillon. |
