发明名称 一种应用于X射线荧光光谱仪中的自动进样测试系统
摘要 本实用新型公开了一种应用于X射线荧光光谱仪中的自动进样测试系统,包括一圆形的转盘,所述转盘上均匀开设有复数个用于放置样品的位置孔,每一位置孔的下方均对应设置一计数螺丝,所述转盘的下方设置有传感器,至少用以感应计数螺丝;所述转盘的下方还设置有驱动电机,所述驱动电机的转轴上还设置有一尼龙模块,所述尼龙模块与转盘固定连接。所述转盘上还设置有相互配合的复位螺丝与复位开关。本实用新型结构设计合理,能够机械自动化的完成进料测试动作,完成一次性测量多个样品,从而大大的提高测试的效率,降低测试所花费的成本,也可节约测量人员工作时间,减少出错率,实用性强。
申请公布号 CN205257279U 申请公布日期 2016.05.25
申请号 CN201521132710.6 申请日期 2015.12.30
申请人 苏州三值精密仪器有限公司 发明人 杨振;杨剑
分类号 B65G29/00(2006.01)I;B65G43/00(2006.01)I 主分类号 B65G29/00(2006.01)I
代理机构 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 代理人 刘俊
主权项 一种应用于X射线荧光光谱仪中的自动进样测试系统,其特征在于,该自动进样测试系统包括一圆形的转盘,所述转盘上均匀开设有复数个用于放置样品的位置孔,每一位置孔的下方均对应设置一计数螺丝,所述转盘的下方设置有传感器,至少用以感应计数螺丝;所述转盘的下方还设置有驱动电机,所述驱动电机的转轴上还设置有一尼龙模块,所述尼龙模块与转盘固定连接。
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