发明名称 |
一种具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法 |
摘要 |
本发明提供一种MRAM芯片,包括一个或多个由MRAM存储单元组成的阵列,每个阵列与控制电路连接,控制电路包括行地址解码器、列地址解码器、读写控制器以及输入输出控制,每个阵列包括多个替换行或列,替换行或列用于替换具有坏MRAM存储单元的行或列。本发明提供上述MRAM芯片的替换、读写方法。本发明提供的具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法,使用替换行或列来替换具有坏MRAM存储单元的行或列,能够在相同的坏存储单元概率下,大幅度提高MRAM芯片的合格率,从而降低MRAM芯片的成本。 |
申请公布号 |
CN105609129A |
申请公布日期 |
2016.05.25 |
申请号 |
CN201510405588.3 |
申请日期 |
2015.07.10 |
申请人 |
上海磁宇信息科技有限公司 |
发明人 |
戴瑾 |
分类号 |
G11C11/16(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/16(2006.01)I |
代理机构 |
上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 |
代理人 |
于晓菁 |
主权项 |
一种MRAM芯片,包括一个或多个由MRAM存储单元组成的阵列,每个阵列与控制电路连接,所述控制电路包括行地址解码器、列地址解码器、读写控制器以及输入输出控制,其特征在于,每个所述阵列包括多个替换行或列,所述替换行或列用于替换具有坏MRAM存储单元的行或列。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区城北路235号二号楼二层 |