发明名称 一种在多晶硅铸锭坩埚上制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>薄膜的方法
摘要 本发明提出一种在多晶硅铸锭坩埚上制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>薄膜的方法,主要包括制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>粉体、Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>粉体冷等静压成型以获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材毛坯、Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材毛坯进行高温烧结以获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷素坯、Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷素坯进行机械加工以获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材、真空磁控溅射Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>涂层等步骤,通过该种方式,不仅能够获得性能稳定、强度高、粘结性强、结构均匀的Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>涂层,而且可以减少坩埚中杂质浸入硅锭中,进而提供高纯度的多晶硅,避免涂层富集现象,提升电池性能,解决了常规制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>涂层中涂层性能不稳定引起多晶硅质量差等问题,从而改善了多晶硅铸造质量,提升了太阳能转化效率。
申请公布号 CN105603374A 申请公布日期 2016.05.25
申请号 CN201610094333.4 申请日期 2016.02.19
申请人 中科院微电子研究所昆山分所 发明人 杜勇
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 常亮
主权项 一种在多晶硅铸锭坩埚上制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、制备Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>粉体;S2、将所述Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>粉体置于模具中,在冷等静压机上进行冷等静压成型,获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材毛坯;S3、将所述Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材毛坯进行高温烧结,获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷素坯;S4、将所述Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷素坯进行机械加工,获得Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材;S5、将所述Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>陶瓷靶材安装在磁控溅射设备的射频阴极上,抽真空并通入保护气体,在多晶硅铸锭坩埚表面溅射Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>涂层。
地址 215347 江苏省苏州市昆山市祖冲之南路1699号综合楼7楼