一种检测相位延迟和偏振相关损耗的装置及其检测方法

摘要

本发明涉及包括一种检测相位延迟和偏振相关损耗的装置及其检测方法，装置包括设置有计算模块的反馈控制系统(7)和第一相位延迟器(10)、第二相位延迟器(11)，计算模块设置有第一相位延迟器(10)和第二相位延迟器(11)相位延迟角度δ₁、δ₂和偏振相关损耗PDL₁、PDL₂关系式：光电流数据I(kπ，kπ)、I(kπ+π/4，kπ+π/4)、I(kπ+π/2，kπ+π/2)、I(kπ，kπ+π/2)、I(kπ+π/4，kπ+3π/4)和I(kπ+π/2，kπ+π)是光电探测器(6)在同一待测波长处、不同k值下测量的光电流数据，或者是光电探测器(6)在同一待测波长处、不同k值下所有光电流数据的平均值，采用本发明装置和方法，可同时测量两个未知宽带相位延迟器的快轴位置、相位延迟特性和PDL特性。

主权项

一种检测相位延迟和偏振相关损耗的装置，其特征在于：包括自然光光源(1)、反馈控制系统(7)，自然光光源(1)出射的平行自然光依次通过共传输轴放置的起偏器(2)、第一转盘(3)、第二转盘(4)、检偏器(5)、光电探测器(6)，第一转盘(3)和第一电机(8)连接，第二转盘(4)和第二电机(9)连接；反馈控制系统(7)同光电探测器(6)、第一电机(8)、第二电机(9)相连实现采集分析光电流数据并反馈控制第一电机(8)和第二电机(9)的旋转状态；所述第一转盘(3)和第二转盘(4)为中空结构，所述第一转盘(3)中空结构内设置有固定第一相位延迟器(10)的定位装置，所述第二转盘(4)中空结构内设置有固定第二相位延迟器(11)的定位装置，所述反馈控制系统(7)设置有计算模块计算第一相位延迟器(10)和第二相位延迟器(11)相位延迟角度δ₁、δ₂和偏振相关损耗PDL₁、PDL₂：${\delta }_1=\frac{1}{2}·{\cos }^{-1}\left[\frac{4I(k\pi +\frac{\pi }{4},k\pi +\frac{\pi }{4})-I(k\pi ,k\pi )-I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\frac{\pi }{2})}{2\sqrt{I(k\pi ,k\pi )·I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\frac{\pi }{2})}}\right]+\frac{1}{2}·{\cos }^{-1}\left[\frac{4I(k\pi +\frac{\pi }{4},k\pi +\frac{3\pi }{4})-I(k\pi ,k\pi +\frac{\pi }{2})-I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\pi )}{2\sqrt{I(k\pi ,k\pi +\frac{\pi }{2})·I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\pi )}}\right]$${\delta }_2=\frac{1}{2}·{\cos }^{-1}\left[\frac{4I(k\pi +\frac{\pi }{4},k\pi +\frac{\pi }{4})-I(k\pi ,k\pi )-I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\frac{\pi }{2})}{2\sqrt{I(k\pi ,k\pi )·I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\frac{\pi }{2})}}\right]-\frac{1}{2}·{\cos }^{-1}\left[\frac{4I(k\pi +\frac{\pi }{4},k\pi +\frac{3\pi }{4})-I(k\pi ,k\pi +\frac{\pi }{2})-I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\pi )}{2\sqrt{I(k\pi ,k\pi +\frac{\pi }{2})·I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\pi )}}\right]$${\mathrm{PDL}}_1\left(indB\right)=-5\lg \frac{I(k\pi ,k\pi +\frac{\pi }{2})}{I(k\pi ,k\pi )}$${\mathrm{PDL}}_2\left(indB\right)=-5\lg \frac{I(k\pi +\frac{\pi }{2},k\pi +\pi )}{I(k\pi ,k\pi )}$其中，k为非负整数(k＝0，1，2，……)，光电流数据I(kπ，kπ)、I(kπ+π/4，kπ+π/4)、I(kπ+π/2，kπ+π/2)、I(kπ，kπ+π/2)、I(kπ+π/4，kπ+3π/4)和I(kπ+π/2，kπ+π)是光电探测器(6)在同一待测波长处、不同k值下测量的光电流数据，或者是光电探测器(6)在同一待测波长处、不同k值下所有光电流数据的平均值。