一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法

摘要

本发明涉及一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置及试验方法，包括接头盒、试验辅助延长OPPC光缆、试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆、电压源、光纤衰减监测仪和紫外成像仪；电压源的高压正电极通过加电压线路与接头盒上盒体连接；电压源的高压负电极接地；试验辅助延长OPPC光缆一端与接头盒上盒体连接，另一端通过尾纤与光纤衰减监测仪连接；试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆一端与接头盒下盒体连接，另一端通过尾纤与光纤衰减监测仪连接；紫外成像仪在白天非黑条件下用于观察电晕试验过程中接头盒上电晕的产生与消失。该试验装置及其方法在实验室模拟测试330kV及以上电压等级OPPC运行线路中的光纤复合架空相线接头盒在规定的电压下的电晕性能。

主权项

一种光纤复合架空相线接头盒电晕试验方法，其特征在于，所述试验方法采用光纤复合架空相线接头盒电晕试验装置实现，所述试验装置包括接头盒(1)、试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)、试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆(5)、电压源、光纤衰减监测仪(7)和紫外成像仪；所述电压源的高压正电极(3)通过加电压线路(2)与接头盒(1)上盒体连接；所述电压源的高压负电极接地；所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)一端与接头盒(1)上盒体连接，另一端通过尾纤与光纤衰减监测仪(7)连接；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆(5)一端与接头盒(1)下盒体连接，另一端通过尾纤(6)与光纤衰减监测仪(7)连接；所述紫外成像仪在白天非黑条件下用于观察电晕试验过程中接头盒(1)上电晕的产生与消失；所述电压源包括高电压正电极(3)和高电压负电极；所述接头盒(1)下盒体接地；所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)与接头盒(1)上盒体连接；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆(5)与接头盒(1)下盒体连接，其中的光纤与接头盒(1)盒体中相熔接的预埋尾纤作为光纤复合架空相线OPPC接头盒的预埋尾纤；所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)包括光单元；所述光单元包括光纤；所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆(5)包括光单元；所述光单元包括光纤；所述试验方法针对工作电压等级为330kV及以上的接头盒产品进行，包括下述步骤：(1)所述接头盒(1)盒体内部光纤接续盘放；(2)所述试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)接续；(3)所述试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆(5)接续；(4)所述接头盒(1)盒体密封；(5)配置所述光纤衰减监测仪(7)；(6)配置所述紫外成像仪；(7)确定接头盒(1)的电晕起始电压和电晕熄灭电压；所述步骤(1)中，所述光纤复合架空相线OPPC接头盒(1)内部有预埋尾纤，试验前将预埋尾纤的多芯光纤与试验辅助延长光缆光单元内部光纤串接，使串接的光纤总长度大于500米；所述接头盒(1)上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)光单元内部光纤串接；所述接头盒(1)下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接；所述光纤总长度为接头盒(1)上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)光单元内部光纤串接的光纤长度加上接头盒(1)下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接的光纤长度；经过接续的预埋光纤及光纤接头放置于接头盒(1)盒体内部，将熔接时经过热缩管保护的光纤接头固定，且余留光纤盘放的曲率半径不小于30mm；所述步骤(2)中，将所述接头盒(1)上盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长光纤复合架空相线OPPC光缆(4)光单元内部光纤串接；所述步骤(3)中，将所述接头盒(1)下盒体中的预埋尾纤与试验辅助延长全介质自承式ADSS光缆光单元内部光纤串接；所述步骤(4)中，接头盒(1)盒体密封采用密封圈结合热熔胶实现；即用热熔胶将密封圈与盒体粘连在一起实现；所述步骤(5)中，进行试验时采用光纤衰减监测仪(7)对电晕试验过程中对接续后的总光纤衰减进行连续测试，并记录测试结果；光纤衰减的波动值不超过±0.03dB；进行试验时在白天非黑条件下采用紫外成像仪对电晕试验过程中接头盒(1)上电晕的产生与消失进行观察；所述紫外成像仪与接头盒(1)的距离为20m‑50m之间；所述步骤(7)中，逐步升高施加在接头盒(1)上的电压，直至观察到试品电晕的产生，维持5min，并记录该电压作为电晕起始电压；然后逐步降低施加在试品上的电压，直至试品上的电晕消失为止，维持5min，并记录该电压为电晕熄灭电压；上述试验重复三次，分别取三次电晕起始电压和电晕熄灭电压平均值作为该接头盒(1)的电晕起始电压和电晕熄灭电压。