| 摘要 |
Die vorliegende Anmeldung betrifft einen Testkontaktor (10) zum Kontaktieren von Halbleiterelementen, umfassend: ein Gehäuse (14) mit einem Gehäuse-Deckel (78) zum Öffnen des Gehäuses, wobei in einem Innenraum des Gehäuses Halbleiterelemente anordenbar sind; wobei der Gehäuse-Deckel umfasst: eine erste Seitenwand (90) und eine zweite Seitenwand (90), die sich gegenüber liegen; ein Deckelelement, das die erste Seitenwand und die zweite Seitenwand verbindet und im geschlossenen Zustand des Gehäuses im Wesentlichen parallel zu den Halbleiterelementen anordenbar ist; und eine Hebelvorrichtung, welche an einer der Seitenwände angeordnet ist; wobei die Hebelvorrichtung umfasst: ein erstes Rotationsmittel (112), welches an einer Außenseite der ersten Seitenwand rotierbar angeordnet ist; zwei erste Rotations-Übertragungsmittel, welche mit dem ersten Rotationsmittel rotierbar verbunden sind, und wobei jedes der ersten Rotations-Übertragungsmittel ein erstes Eingriffsmittel aufweist; zwei erste Kraftführungsmittel (134), welche gegenüberliegend zu einer Innenseite der ersten Seitenwand angeordnet sind, wobei jedes der ersten Eingriffsmittel dazu ausgelegt ist, in ein entsprechend zugeordnetes erstes Kraftführungsmittel einzugreifen, wenn das Gehäuse geschlossen wird; ein Hebel (150), welcher mit dem ersten Rotationsmittel verbunden ist und der dazu ausgelegt ist, das erste Rotationsmittel durch ein Verschwenken des Hebels zu rotieren; wobei die ersten Eingriffsmittel durch eine Rotationsbewegung des ersten Rotationsmittels in den ersten Kraftführungsmitteln in Längsrichtung zwischen einer ersten Position und einer zweiten Position verschiebbar sind; und wobei die ersten Eingriffsmittel in der zweiten Position selbstgehemmt sind, so dass ein selbstständiges Öffnen des Gehäuse-Deckels verhindert wird. |
