Die Möglichkeit der Einstellung der Position einer Auswahlbereich-Blende wird verbessert. Ein Elektronenmikroskop ist mit folgenden Bestandteilen versehen: eine Bildaufnahmeeinrichtung zum Aufnehmen eines Bilds eines visuellen Betrachtungsfelds vor dem Einsetzen einer Auswahlbereich-Blende als Kartenbild; eine Aufzeichnungseinrichtung zum Aufzeichnen des Kartenbilds; eine Extraktionseinrichtung zum Aufnehmen eines Bilds des visuellen Betrachtungsfelds nach Einsetzen der Auswahlbereich-Blende und Extrahieren des Umrisses der Blende; eine Zeichnungseinrichtung zum Einzeichnen des Umrisses auf dem Kartenbild; und eine Anzeigeeinrichtung zum Anzeigen des von der Zeichnungseinrichtung gezeichneten Bildes.
