发明名称 EUV-Lithographiesystem
摘要 Die Erfindung betrifft ein EUV-Lithographiesystem, umfassend: eine erste Vakuum-Kammer (2a) und eine zweite Vakuum-Kammer (3a), zwischen denen ein röhrenförmiger Kanal (20) zum Durchtritt von EUV-Strahlung (6) gebildet ist, sowie eine Spüleinrichtung (21) mit mindestens einem Gas-Einlass (26, 27), der an einer Einlass-Öffnung (26a, 27a) in einer umlaufenden Wand (20a) des röhrenförmigen Kanals (20) mündet, um mindestens einen Spülgasstrom (22a, 22b) in den röhrenförmigen Kanal (20) einzulassen. Der mindestens eine Gas-Einlass (26, 27) mündet an seiner Einlass-Öffnung (26a, 27a) in einer Ebene (XY) senkrecht zur Längsachse (24) des röhrenförmigen Kanals (20) im Wesentlichen tangential zur umlaufenden Wand (20a) in den röhrenförmigen Kanal (20), um in dem röhrenförmigen Kanal (20) eine Wirbelströmung (28a, 28b) des Spülgasstroms (22a, 22b) zu erzeugen.
申请公布号 DE102014222674(B3) 申请公布日期 2016.05.25
申请号 DE201410222674 申请日期 2014.11.06
申请人 Carl Zeiss SMT GmbH 发明人 Becker, Moritz;Baumann, Thomas;Marek, Peter;Akbarinia, Ali-Reza
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
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