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Die Erfindung betrifft einen Datenbus und die entsprechenden Teilvorrichtungen und zwar insbesondere den Datenbus zwischen einer ersten Teilvorrichtung, dem Master, und einer zweiten Teilvorrichtung, dem Slave. Der Datenbus weist eine Bezugspotenzialleitung (GND) mit einem Bezugspotenzial (V0) und eine Datenleitung (TOW) zur Übertragung von Daten und einem Testsystemtakt zwischen Master und Slave auf. Über die Datenleitung (TOW) werden bidirektional Daten zwischen dem Master und dem Slave Übertragen. Über die Datenleitung (TOW) wird dabei zusätzlich ein Testsystemtakt mit einer Testsystemtaktperiode (T), die in eine erste Halbtaktperiode (T1H) und eine zweite Halbtaktperiode (T2H) unterteilt ist, zusätzlich übertragen. Der Slave verfügt über eine erste Einrichtung, insbesondere einen ersten Komparator (C2H) verfügt, der den Signalpegel in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial der Datenleitung (TOW) mit einem ersten Schwellwertsignal (V2H), vergleicht. Der Slave verfügt darüber hinaus über eine zweite Einrichtung, insbesondere einen zweiten Komparator (C2L), der den Signalpegel in Form einer Signalspannung zwischen dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) und dem Potenzial der Datenleitung (TOW) mit einem zweiten Schwellwertsignal (V2L), vergleicht. Dabei ist der erste Schwellwert vom zweiten Schwellwert verschieden. Der erste und zweite Schwellwert definieren somit zwischen der Betriebsspannung (VIO, VIO2, VIO2) und dem Bezugspotenzial (V0) der Bezugspotenzialleitung (GND) drei Signalspannungsbereiche (VB1, VB2, VB3). Der mittlere Spannungsbereich wird als zweiter Spannungsbereich (VB2) von einem ersten Spannungsbereich (VB1) nach oben oder unten hin begrenzt wird und wobei glöleichzeitig der zweite Spannungsbereich (VB2) nach unten oder oben hin aber in jedem Fall anders als beim ersten Spannungsbereich (VB1) durch einen dritten Spannungsbereich (VB3) begrenzt wird. Die Daten auf der Datenleitung (TOW) werden in zeitlich beabstandeten oder aufeinander folgenden Zeitschlitzpaketen von zumindest drei aufeinander folgenden Zeitschlitzen (TIN0, TIN1, TDO) mit jeweils einer Dauer einer Testsystemtaktperiode (T) übertragen. Ein erster Zeitschlitz (TIN0) und ein zweiter Zeitschlitz (TIN1) enthalten dabei typischerweise ein Kontrolldatum und/oder ein erstes Datum, das jeweils vom Master zum Slave übertragen. Ein dritter Zeitschlitz (TDO) enthält ein zweites Datum, das vom Slave zum Master übertragen wird und wobei der Master dieses zweite Datum empfängt und wobei das zweite Datum nur im zweiten Spannungsbereich (VB2) und dritten Spannungsbereich (VB3) übertragen wird. Die Übertragung der Daten erfolgt dabei in einer Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) einer Testsystemtaktperiode (T). Der Testsystemtakt wird durch ein Taktsignal im ersten Spannungsbereich (TB1) während der jeweils anderen Halbtaktperiode der mindestens zwei Halbtaktperioden (T1H, T2H) der Testsystemtaktperiode (T) übertragen. |
