| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen der Temperatur einer Probe (40) sowie eine Temperaturmessvorrichtung (20). Um die Temperatur ohne den Einfluss von Störstrahlung (S) bestimmen zu können, ist erfindungsgemäß vorgesehen, dass theoretische, emissivitätskorrigierte Strahlungsspektren mit vermuteten Störstrahlungsspektren überlagert werden und sich daraus ergebende Summenspektren mit gemessenen Strahlungsspektren verglichen werden. |
