发明名称 一种光谱反射率测量装置及方法
摘要 本发明提供了一种光谱反射率检测装置及方法,其装置包括照明模块、成像模块和控制及数据处理模块。照明模块由多种单色LED光源及相应的恒流驱动电路组成,以不同主波长的LED光源分别照明目标物体;成像模块接收不同单色LED光源照射下目标物体的反射光线并成像;控制及数据处理模块的控制照明模块和成像模块的动作,处理获得的图像信息并计算目标物体的反射光谱特征。本发明无需对目标物体图像所有像素点进行光谱测量扫描,以较为简便实用的方法得到目标物体表面每一点的光谱反射率,实现了传统光谱仪器无法实现的功能。
申请公布号 CN105606216A 申请公布日期 2016.05.25
申请号 CN201610115996.X 申请日期 2016.03.02
申请人 复旦大学 发明人 刘木清;江磊;张潇临
分类号 G01J3/10(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J3/10(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 张磊
主权项 一种光谱反射率检测装置,其特征在于,包括照明模块、成像模块及数据处理模块,照明模块用以照明目标物体,成像模块接收目标物体的反射光线并成像,控制及数据处理模块控制照明模块的照明;处理获得的图像信息并计算目标物体的光谱特征;其中:照明模块由N路独立的恒流驱动及控制电路与单色LED阵列串联组成,每一路的恒流驱动及控制电路5将每路的单色LED阵列控制在700mA恒流输出模式;成像模块包括面阵CCD及透镜组;透镜组的进光口对准目标物体,出光口对准面阵CCD,通过透镜组收集照明目标物体的反射光线,并成像于面阵CCD上;控制及数据处理模块以MCU为核心,MCU连接照明模块的每一路恒流驱动及控制电路,从而控制单色LED阵列的开通或关闭;MCU通过与面阵CCD相通讯,获取目标物体在特定LED光源照射下的成像信息,CU将获得的成像信息通过计算,得出目标物体图像每个像素点的相对光谱能量分布信息,存储在外部的Flash存储器上,并通过人机界面接口传输或显示给用户。
地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号