发明名称 |
一种光谱反射率测量装置及方法 |
摘要 |
本发明提供了一种光谱反射率检测装置及方法,其装置包括照明模块、成像模块和控制及数据处理模块。照明模块由多种单色LED光源及相应的恒流驱动电路组成,以不同主波长的LED光源分别照明目标物体;成像模块接收不同单色LED光源照射下目标物体的反射光线并成像;控制及数据处理模块的控制照明模块和成像模块的动作,处理获得的图像信息并计算目标物体的反射光谱特征。本发明无需对目标物体图像所有像素点进行光谱测量扫描,以较为简便实用的方法得到目标物体表面每一点的光谱反射率,实现了传统光谱仪器无法实现的功能。 |
申请公布号 |
CN105606216A |
申请公布日期 |
2016.05.25 |
申请号 |
CN201610115996.X |
申请日期 |
2016.03.02 |
申请人 |
复旦大学 |
发明人 |
刘木清;江磊;张潇临 |
分类号 |
G01J3/10(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/10(2006.01)I |
代理机构 |
上海正旦专利代理有限公司 31200 |
代理人 |
张磊 |
主权项 |
一种光谱反射率检测装置,其特征在于,包括照明模块、成像模块及数据处理模块,照明模块用以照明目标物体,成像模块接收目标物体的反射光线并成像,控制及数据处理模块控制照明模块的照明;处理获得的图像信息并计算目标物体的光谱特征;其中:照明模块由N路独立的恒流驱动及控制电路与单色LED阵列串联组成,每一路的恒流驱动及控制电路5将每路的单色LED阵列控制在700mA恒流输出模式;成像模块包括面阵CCD及透镜组;透镜组的进光口对准目标物体,出光口对准面阵CCD,通过透镜组收集照明目标物体的反射光线,并成像于面阵CCD上;控制及数据处理模块以MCU为核心,MCU连接照明模块的每一路恒流驱动及控制电路,从而控制单色LED阵列的开通或关闭;MCU通过与面阵CCD相通讯,获取目标物体在特定LED光源照射下的成像信息,CU将获得的成像信息通过计算,得出目标物体图像每个像素点的相对光谱能量分布信息,存储在外部的Flash存储器上,并通过人机界面接口传输或显示给用户。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |