发明名称 セキュアテストモードを有するメモリデバイスとその方法
摘要 A method in a memory device that operates in a testing mode, includes receiving a vector to be written to the memory device. The vector is written to the memory device only if the vector belongs to a predefined set of test vectors. If the vector does not belong to the set of test vectors, the vector is converted to one of the test vectors, and the converted vector is written to the memory device.
申请公布号 JP5926355(B2) 申请公布日期 2016.05.25
申请号 JP20140224073 申请日期 2014.11.04
申请人 華邦電子股▲ふん▼有限公司 发明人 ニイル タシエル;ウリ カルズニー;ツァチ ウェイセル;ヴァレリー テペル
分类号 G11C29/10;G06F12/16 主分类号 G11C29/10
代理机构 代理人
主权项
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