发明名称 |
检测不稳定存储单元的分布的存储系统和方法 |
摘要 |
操作电路以从至少一页中的多个存储单元中检测不稳定的存储单元。根据存储单元中存储的数据的初始状态来确定:以标准读电压读取数据时是否没有发生读错误,是否发生了读错误并且该读错误是可纠正的,以及是否发生了读错误并且该读错误是不可纠正的。响应于确定发生了可纠正的读错误,通过以具有不同于标准读电压的电压的纠正读电压读取存储单元中存储的数据,以及通过确定以纠正读电压读取的数据中发生的读错误是可纠正的还是不可纠正的,进一步确定存储单元是否是可纠正的。 |
申请公布号 |
CN102033785B |
申请公布日期 |
2016.05.25 |
申请号 |
CN201010293364.5 |
申请日期 |
2010.09.26 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
金善择;庆允英 |
分类号 |
G06F11/00(2006.01)I;G06F11/10(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
邵亚丽 |
主权项 |
一种操作电路以从至少一页中的多个存储单元中检测不稳定的存储单元的方法,该方法包括:根据存储单元中存储的数据的初始状态来确定:在以标准读电压读取数据时是否没有发生读错误,是否发生了读错误并且该读错误是可纠正的,以及是否发生了读错误并且该读错误是不可纠正的;以及响应于确定发生了可纠正的读错误,通过以具有不同于标准读电压的电压的纠正读电压读取存储单元中存储的数据,以及通过确定以纠正读电压读取的数据中发生的读错误是可纠正的还是不可纠正的,进一步确定存储单元是否是可纠正的。 |
地址 |
韩国京畿道 |