发明名称 |
Vorrichtungen und Verfahren für die Transceiver-Schnittstellen-Überspannungsbegrenzung |
摘要 |
Es werden Vorrichtungen und Verfahren für die Transceiver-Schnittstellenüberspannungsbegrenzung bereitgestellt. In bestimmten Konfigurationen enthält eine Schnittstelleneinrichtung ein erstes p-Wannengebiet und ein zweites p-Wannengebiet in einer n-Isolierstruktur. Zusätzlich enthält die Begrenzungseinrichtung ein erstes aktives p-Gebiet und ein erstes aktives n-Gebiet in dem ersten p-Wannengebiet, die mit einem ersten Anschluss der Begrenzungseinrichtung elektrisch verbunden sind. Darüber hinaus enthält die Begrenzungseinrichtung ein zweites aktives p-Gebiet und ein zweites aktives n-Gebiet in dem zweiten p-Wannengebiet, die mit einem zweiten Anschluss der Begrenzungseinrichtung elektrisch verbunden sind. Die n-Isolierstruktur befindet sich in einem p-Gebiet eines Halbleitersubstrats und isoliert das erste und das zweite p-Wannengebiet elektrisch von dem p-Substratgebiet. Ferner enthält die Begrenzungseinrichtung eine Blockierspannungs-Abstimmstruktur, die zwischen dem ersten und dem zweiten aktiven n-Gebiet positioniert ist. |
申请公布号 |
DE102015119837(A1) |
申请公布日期 |
2016.05.19 |
申请号 |
DE201510119837 |
申请日期 |
2015.11.17 |
申请人 |
ANALOG DEVICES, INC. |
发明人 |
Salcedo, Javier Alejandro;Zhao, James;Luo, Juan |
分类号 |
H01L23/60;H01L21/822;H01L27/06 |
主分类号 |
H01L23/60 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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