发明名称 Kontakte für stark skalierte Transistoren
摘要 Es werden ein Halbleiterbauelement und Verfahren zur Ausbildung desselben offenbart. Das Halbleiterbauelement umfasst ein Substrat, erste und zweite Source/Drain(S/D)-Bereiche, einen Kanal zwischen dem ersten und zweiten S/D-Bereich, ein Gate, das am Kanal angreift, und ein Kontaktmerkmal, das eine Verbindung zu dem ersten S/D-Bereich herstellt. Das Kontaktmerkmal umfasst erste und zweite Kontaktschichten. Die erste Kontaktschicht weist ein winkeltreues Querschnittsprofil auf und ist mit dem ersten S/D-Bereich auf mindestens zwei Seiten desselben in Kontakt. In Ausführungsformen ist die erste Kontaktschicht in einem direkten Kontakt mit drei oder vier Seiten des ersten S/D-Bereichs, um so die Kontaktfläche zu vergrößern. Die erste Kontaktschicht umfasst eines von einer Halbleiter-Metall-Legierung, einem III-V-Halbleiter und Germanium.
申请公布号 DE102015117142(A1) 申请公布日期 2016.05.19
申请号 DE201510117142 申请日期 2015.10.08
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Wu, Chung-Cheng;Chang, Chia-Hao;Wang, Chih-Hao;Colinge, Jean-Pierre;Lin, Chun-Hsiung;Lien, Wai-Yi;Diaz, Carlos H.;Leung, Ying-Keung
分类号 H01L29/78;H01L21/336 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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