发明名称 |
一种薄膜开关AOI检测器及其AOI检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种薄膜开关AOI检测器,包括信号采集设备,其特征在于,还包括AOI功能检测设备、AOI外观检测设备、检测记录设备和检测信号输出设备;AOI功能检测设备、AOI外观检测设备的输入端分别与信号采集设备连接,其输出端分别与检测记录设备和检测信号输出设备连接。一种薄膜开关的AOI检测方法,包括如下步骤:1)用信号采集设备读取待测薄膜开关的信息;2)进行AOI功能检测和AOI外观检测,分别得到功能检测信息和外观检测信息;3)将功能检测信息和外观检测信息传递给检测信号输出设备。本发明的有益之处在于:能够迅速确定并报告故障发生的位置及其性质,而为操作人员提供进行有效的工艺控制和所需的实际检测数据。 |
申请公布号 |
CN103412256B |
申请公布日期 |
2016.05.18 |
申请号 |
CN201310347633.5 |
申请日期 |
2013.08.12 |
申请人 |
昆山峰实电子科技有限公司 |
发明人 |
樊春兰 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
南京纵横知识产权代理有限公司 32224 |
代理人 |
董建林 |
主权项 |
一种薄膜开关AOI检测器,包括用于读取待测薄膜开关信息的信号采集设备,其特征在于,还包括用于检测待测薄膜开关综合功能的AOI功能检测设备、用于检测待测薄膜开关外观的AOI外观检测设备、用于记录检测结果的检测记录设备和用于显示检测结果的检测信号输出设备;上述AOI功能检测设备、AOI外观检测设备的输入端分别与上述信号采集设备连接,其输出端分别与检测记录设备和检测信号输出设备连接。 |
地址 |
215300 江苏省苏州市昆山市经济技术开发区昆嘉路1098号 |