发明名称 产品技术状态监管系统
摘要 本发明属于总体与系统集成技术领域,具体涉及一种产品技术状态监管系统。包括设计技术状态监管子系统、产品质量状态监管子系统;功能包括对产品设计技术状态与产品实物质量信息两部分的监管;设计技术状态监管子系统的功能是对产品批次的设计状态进行监管,对状态变化进行辨识与分析,对涉及产品质量与使用风险的状态变化与异常进行风险提示或风险告警;产品质量状态监管子系统的功能是对批生产中的产品原材料与元器件、物理特性、性能参数进行监管,对各项参数的波动性进行统计分析,对超差、偏离、临界参数进行风险告警。本发明对海量技术状态信息与产品数据信息进行管理、分类统计分析,是产品技术状态监管的有效途径。
申请公布号 CN105590149A 申请公布日期 2016.05.18
申请号 CN201410561880.X 申请日期 2014.10.21
申请人 北京宇航系统工程研究所;中国运载火箭技术研究院 发明人 王立旭;谢汶姝;颜廷贵;李璨;马骥;张捷;阎小涛;武唯强;何涛;张东;陈宇川
分类号 G06Q10/06(2012.01)I 主分类号 G06Q10/06(2012.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 吕岩甲
主权项 一种产品技术状态监管系统,其特征在于:该系统包括设计技术状态监管子系统、产品质量状态监管子系统;功能包括对产品设计技术状态与产品实物质量信息两部分的监管;产品设计技术状态信息包括:性能参数指标、物理特性指标、原材料/生产厂、技术条件要求以及参数的影响危害度等,并收录状态变化过程中产生的记录文件;设计技术状态监管子系统的功能是对产品批次的设计状态进行监管,对状态变化进行辨识与分析,对涉及产品质量与使用风险的状态变化与异常进行风险提示或风险告警;产品质量状态信息包括:产品性能实测数据、设计单位与配套生产单位、订货与验收单位等,还包括产品生产中产生的偏离、超差记录文件;产品质量状态监管子系统的功能是对批生产中的产品原材料与元器件、物理特性、性能参数进行监管,对各项参数的波动性进行统计分析,对超差、偏离、临界参数进行风险告警。
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