基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法

摘要

本发明公开了一种基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法，包括：在DUT建OAM会话，测试unExpDefect时控制Testcenter配置脚本；测试unExpDefect时，DUT监控unExpDefect产生和消除；测试unExpDefect结束，Testcenter自动化脚本分析capture报文；在DUT建OAM会话，测试dLoc时控制Testcenter配置脚本；测试dLoc时，DUT内部脚本监控dLoc产生和消除。本发明实现了降频验证用Testcenter OAM协议栈互动测试，实现Testcenter收发包和DUT会话配置，完整复现测试出现问题，降频时OAM告警测试误差精度达0.1％。

主权项

基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在DUT建立一个OAM会话，测试unExpDefect告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；S2、测试unExpDefect告警时，DUT内部脚本监控unExpDefect告警产生和消除的逻辑；S3、在测试unExpDefect告警产生和消除结束后，启动Testcenter自动化脚本分析capture的OAM报文；S4、在DUT建立一个OAM会话，测试dLoc告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；S5、测试dLoc告警时，DUT内部脚本监控dLoc告警产生和消除的逻辑。