发明名称 取向处理方法及取向处理装置
摘要 本发明提供一种取向处理方法及取向处理装置,其使涂敷了取向膜的基板与具有第一掩模图案组(6A)和第二掩模图案组(6B)的光掩模(7)靠近对置,将该基板(4)在与所述第一及第二掩模图案组(6A)、(6B)交叉的方向上移动,第一掩模图案组(6A)以一定的排列间距形成细长状的多个开口,第二掩模图案组(6B)与该第一掩模图案组(6A)平行地设置且以与所述多个开口的排列间距相同的间距形成细长状的多个开口,对所述光掩模(7)的第一及第二掩模图案组(6A)、(6B)分别照射入射角度(θ)为不同的P偏振光,在所述取向膜上交替地形成取向状态不同的条纹状的第一及第二取向区域。由此,通过一次取向处理来形成取向状态不同的二种条纹状的取向区域并缩短取向处理工序的节拍。
申请公布号 CN102906635B 申请公布日期 2016.05.18
申请号 CN201180020598.5 申请日期 2011.04.15
申请人 株式会社V技术 发明人 梶山康一;新井敏成;水村通伸
分类号 G02F1/1337(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/1337(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 肖华
主权项 一种取向处理方法,其特征在于,使涂敷了取向膜的基板与具有第一掩模图案组和第二掩模图案组的光掩模靠近对置,并使所述基板在与所述第一及第二掩模图案组交叉的方向上移动,所述第一掩模图案组以一定的排列间距形成了细长状的多个开口,第二掩模图案组与该第一掩模图案组平行地设置,且以与所述多个开口的排列间距相同的间距形成了细长状的多个开口,利用半透半反镜的反射面进行分离,使得入射角度不同的两束P偏振光中的一束P偏振光直接照射所述第一掩模图案组,另一束P偏振光直接照射所述第二掩模图案组,所述半透半反镜被配置为在所述光掩模的所述第一及第二掩模图案组的中间位置且在与所述光掩模垂直交叉的面内具有所述反射面,在所述取向膜上交替地形成取向状态不同的条纹状的第一及第二取向区域。
地址 日本国神奈川县横浜市