一种新型测试座

摘要

本实用新型提供了一种新型测试座，包括：底座，设于底座上的托盘，底部金属托盘，由两根或以上的探针组成的探针组，上部金属托盘，上盖；所述底部金属托盘设于托盘的上表面内，上部金属托盘设于上盖的底部表面内，所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内，探针组的上端穿过上部金属托盘后位于上盖内；所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与上盖相结合后形成的空间内。由于测试座内部测试探针采用上部金属托盘及底部金属托盘，二者用铜制成，使得相邻I/O输出的信号通过探针(probe)时不会产生串扰(crosstalk)，并吸收外界电磁场对高频信号的影响，从而保证高频信号的输出准确性。

主权项

一种新型测试座，其特征在于，包括：底座，设于底座上的托盘，底部金属托盘，由两根或以上的探针组成的探针组，上部金属托盘，上盖；所述底部金属托盘设于托盘的上表面内，上部金属托盘设于上盖的底部表面内，所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内，探针组的上端穿过上部金属托盘后位于上盖内；所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与上盖相结合后形成的空间内。