| 发明名称 | 天线反射面表面精度的测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种天线反射面表面精度的测量装置，包括：固定座，用于安装固定待测天线反射面；检测机构，所述检测机构相对所述固定座设置，用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。通过上述实施方式，其结构简单，能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。 | ||
| 申请公布号 | CN105588536A | 申请公布日期 | 2016.05.18 |
| 申请号 | CN201510541400.8 | 申请日期 | 2015.08.27 |
| 申请人 | 广东通宇通讯股份有限公司 | 发明人 | 窦华土;张君;赵李刚;阳恩主;周亦恒 |
| 分类号 | G01B21/30(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 | 代理人 | 张佳 |
| 主权项 | 一种天线反射面表面精度的测量装置，其特征在于，包括：固定座，用于安装固定待测天线反射面；检测机构，所述检测机构相对所述固定座设置，用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。 | ||
| 地址 | 528400 广东省中山市火炬开发区金通街3号 | ||