发明名称 借助测量系统确定工件结构和/或几何形状的方法和装置
摘要 本发明涉及一种用来校正用于CT重建的透射图像或投影数据的方法,其中在测量时待测量的工件布置在发射X射线辐射的X射线源与接收X射线辐射的X射线探测器之间。此外,本发明还涉及一种用于根据事先拍摄的透射图像利用在探测器上诸如反差明显的尽可能质量高的成像确定用于计算机断层造影的参数。本发明还涉及一种用于借助测量系统、优选计算机断层造影测量系统确定对象的结构和/或几何形状的装置,该测量系统由至少一个辐射源、至少一个辐射探测器和至少一个旋转轴组成。
申请公布号 CN102326182B 申请公布日期 2016.05.18
申请号 CN201080008625.2 申请日期 2010.02.19
申请人 沃思测量技术股份有限公司 发明人 R.克里斯托弗;I.施密特;M.哈默;T.韦登赫费尔
分类号 G06T5/00(2006.01)I;G06T11/00(2006.01)I 主分类号 G06T5/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 臧永杰;卢江
主权项 用于借助测量系统来确定工件的结构和/或几何形状的方法,该测量系统包括至少一个辐射源、至少一个辐射探测器和至少一个物理旋转轴,其中,组合来自工件的不同旋转位置的照片,对于所述旋转位置:‑借助由工件与探测器之间的旋转和平移的相对移动构成的组合将所述工件围绕所产生的不同于物理旋转轴的旋转轴旋转,以便所述工件与当前旋转位置无关地总是在接近探测器的相同位置处成像,和‑工件、辐射源和探测器采取相对于彼此的多个位置。
地址 德国吉森