发明名称 离子植入机中的碳化硅镀膜
摘要 本发明涉及一种离子植入机,其在一或多个暴露于离子的导电表面上具有低电阻率碳化硅镀膜。举例来说,离子在离子源室中产生并且壁的内表面镀有低电阻率碳化硅。由于碳化硅是硬性并且耐溅镀的,这可以减少引入到从离子源室提取的离子束中的污染物离子的量。在一些实施例中,提取电极也镀有碳化硅以减少由这些组件引入的污染物离子。
申请公布号 CN105593401A 申请公布日期 2016.05.18
申请号 CN201480053311.2 申请日期 2014.09.24
申请人 瓦里安半导体设备公司 发明人 罗伯特·J·梅森;沙杜·佩特尔;罗伯特·H·贝当古;提摩西·J·米勒
分类号 C23C14/48(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I 主分类号 C23C14/48(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 张洋;臧建明
主权项 一种离子植入机,包括:离子源,包括离子源室,所述离子源室具有第一壁、相对的导电的第二壁以及多个导电的侧壁,其中提取孔口安置在所述第二壁中;以及提取电极组件,经安置而接近所述提取孔口并且在所述离子源室外,所述提取电极组件包括一或多个导电电极;其中至少一个导电组件镀有低电阻率的碳化硅。
地址 美国麻萨诸塞州格洛斯特郡都利路35号