发明名称 |
离子植入机中的碳化硅镀膜 |
摘要 |
本发明涉及一种离子植入机,其在一或多个暴露于离子的导电表面上具有低电阻率碳化硅镀膜。举例来说,离子在离子源室中产生并且壁的内表面镀有低电阻率碳化硅。由于碳化硅是硬性并且耐溅镀的,这可以减少引入到从离子源室提取的离子束中的污染物离子的量。在一些实施例中,提取电极也镀有碳化硅以减少由这些组件引入的污染物离子。 |
申请公布号 |
CN105593401A |
申请公布日期 |
2016.05.18 |
申请号 |
CN201480053311.2 |
申请日期 |
2014.09.24 |
申请人 |
瓦里安半导体设备公司 |
发明人 |
罗伯特·J·梅森;沙杜·佩特尔;罗伯特·H·贝当古;提摩西·J·米勒 |
分类号 |
C23C14/48(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/48(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人 |
张洋;臧建明 |
主权项 |
一种离子植入机,包括:离子源,包括离子源室,所述离子源室具有第一壁、相对的导电的第二壁以及多个导电的侧壁,其中提取孔口安置在所述第二壁中;以及提取电极组件,经安置而接近所述提取孔口并且在所述离子源室外,所述提取电极组件包括一或多个导电电极;其中至少一个导电组件镀有低电阻率的碳化硅。 |
地址 |
美国麻萨诸塞州格洛斯特郡都利路35号 |