芯片测试装置

摘要

本实用新型提供一种芯片测试装置，用以测试一集成电路芯片，其中所述集成电路芯片具有多个管脚，所述芯片测试装置包括：一夹持件、一测试电路板、一承载件、多个实心的测试探针及多个缓冲组件。所述夹持件用以夹持集成电路芯片。所述承载件设置于夹持件与测试电路板之间。所述多个测试探针穿过承载件并分别具有一前端及一尾端，其中所述测试探针的所述前端分别接触所述管脚，且所述测试探针的所述尾端电性连接所述测试电路板。所述多个缓冲组件设置于夹持件与承载件之间，且当所述测试探针的所述前端分别接触所述管脚时，所述缓冲组件抵接夹持件与承载件。

主权项

一种芯片测试装置，用以测试一集成电路芯片，其特征在于，该集成电路芯片具有多个管脚，该芯片测试装置包括：一夹持件，用以夹持该集成电路芯片；一测试电路板；一承载件，设置于该夹持件与该测试电路板之间；多个实心的测试探针，穿过该承载件并分别具有一前端及一尾端，其中在进行测试时，所述测试探针的所述前端分别接触所述管脚，且所述测试探针的所述尾端电性连接该测试电路板；以及多个缓冲组件，设置于该夹持件与该承载件之间，且当所述测试探针的所述前端分别接触所述管脚时，所述缓冲组件抵接该夹持件与该承载件。