发明名称 | 一种塑料颗粒用分析天平 | ||
摘要 | 一种塑料颗粒用分析天平,包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂,所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。本发明塑料颗粒用分析天平由于结构简单,使用方便,提高了工作效率,满足了用户的需求。 | ||
申请公布号 | CN105588775A | 申请公布日期 | 2016.05.18 |
申请号 | CN201410565822.4 | 申请日期 | 2014.10.22 |
申请人 | 天津思迈德高分子科技有限公司 | 发明人 | 李玉生 |
分类号 | G01N5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N5/00(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种塑料颗粒用分析天平,其特征在于:所述塑料颗粒用分析天平包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂,所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。 | ||
地址 | 300000 天津市西青区杨柳青镇勤成路3号 |