发明名称 改善されたロック要素補正
摘要 時刻T0に、質量分析計を最初に校正または再校正し、実質的に同時に、1つ以上のロックマスイオンの飛行時間または質量電荷比M0を測定することを含む質量分析方法が開示される。質量分析計は、次いで、その後の時刻Tに動作され、1つ以上のロックマスイオンの飛行時間または質量電荷比Mが、その後の時刻Tに測定される。イオンの飛行時間または質量電荷比Mは、次いで、10時刻Tに測定された1つ以上のロックマスイオンの飛行時間または質量電荷比Mと、時刻T0に測定された1つ以上のロックマスイオンの飛行時間または質量電荷比M0との間の差によって、またはそれに基づいて調整される。【選択図】図1
申请公布号 JP2016513789(A) 申请公布日期 2016.05.16
申请号 JP20150560770 申请日期 2014.03.05
申请人 マイクロマス ユーケー リミテッド 发明人 ジェイソン・リー・ワイルドグース
分类号 G01N27/62;H01J49/26;H01J49/40 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
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