发明名称 |
改良之氮化镓结构 |
摘要 |
明揭示一种半导体装置。该装置包含:一基板,其包含GaN;一二维电子气(2DEG)感应层,其在该基板上;及一横向电晶体,其在该2DEG感应层上。该横向电晶体包含:源极接触件及汲极接触件,其至该2DEG感应层;一闸极堆叠,其在该等源极接触件与汲极接触件之间;及一场板,其在该闸极接触件与该汲极接触件之间。该装置亦包含该2DEG感应层上之一或多个绝缘层,其中藉由该等绝缘层及该等绝缘层上之一导体将该场板与该2DEG感应层隔开,其中藉由该等绝缘层将该导体之一第一部分与该2DEG感应层隔开达小于200nm之一距离。
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申请公布号 |
TW201618276 |
申请公布日期 |
2016.05.16 |
申请号 |
TW104131007 |
申请日期 |
2015.09.18 |
申请人 |
纳维达斯半导体公司 |
发明人 |
金泽 丹尼尔M |
分类号 |
H01L27/085(2006.01);H01L21/334(2006.01);H01L21/20(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/085(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
一种半导体装置,其包括:一基板,其包括GaN;一二维电子气(2DEG)感应层,其在该基板上;一横向电晶体,其在该2DEG感应层上,该横向电晶体包括:源极接触件及汲极接触件,其至该2DEG感应层,一闸极堆叠,其在该等源极接触件与汲极接触件之间,及一场板,其在该闸极接触件与该汲极接触件之间;一或多个绝缘层,其在该2DEG感应层上,其中藉由该等绝缘层将该场板与该2DEG感应层隔开;及一导体,其在该等绝缘层上,其中藉由该等绝缘层将该导体之一第一部分与该2DEG感应层隔开达小于200nm之一距离。
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地址 |
美国 |