发明名称 自动化层测设备
摘要 明提供一种自动化层测设备,包括检测载盘、基座、检测支架、致动器、电性测头以及缓冲单元,其中检测载盘之周缘设置多个凹槽提供承载待测电子工件,在检测载盘一距离处设有基座,此基座设有一平台,及其沿伸设置一垂直支架,检测支架与致动器皆设于此垂直支架上之一处,电性测头系设于该检侧支架之另一侧,以及缓冲单元系设于该电性测头与该检侧支架之另一侧之间。本发明之自动化层测设备,相较于知技术,其有效解决了先前仅能以人工方式进行之层测步骤,更进一步将绕线电感之层测达成自动化。
申请公布号 TW201617631 申请公布日期 2016.05.16
申请号 TW103138952 申请日期 2014.11.10
申请人 天正国际精密机械股份有限公司 发明人 凃穗瑜
分类号 G01R31/26(2014.01) 主分类号 G01R31/26(2014.01)
代理机构 代理人 颜婌烊
主权项 一种自动化层测设备,包括:一检测载盘,该检测载盘之周缘设有复数个凹槽,其中各该凹槽系提供承载一电子工件;一基座,系设于该检测载盘一距离处,其中该基座设有一平台,该平台可于该基座滑上动,其中该平台设有一垂直支架;一检测支架,该检测支架之一侧系设于该垂直支架之一处;一致动器,该致动器设于该垂直支架之一处,其中该致动器驱动该检测支架于该垂直支架上沿垂直方向滑动;一电性测头,该电性测头系设于该检侧支架之另一侧,系对该电子工件进行电性测试;以及一缓冲单元,该缓冲单元系设于该电性测头与该检侧支架之另一侧之间。
地址 高雄市仁武区凤仁路295-2号