发明名称 基板洗浄および乾燥のための方法および装置
摘要 半導体製造における洗浄および乾燥プロセスを最適化するための方法および装置が開示される。前記最適化は、プロセシングスループットを最大化する一方で、低い欠陥数および高いデバイス生産量を維持することを試み、シミュレーションおよび実験データを使用して、前記洗浄および乾燥プロセスについての最適なプロセスパラメータを設定する。また、洗浄液およびパージガスノズルの動きの改善された方法が開示される。
申请公布号 JP2016513888(A) 申请公布日期 2016.05.16
申请号 JP20160502730 申请日期 2014.03.14
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 フォンセカ,カーロス,エー;カーカシ,マイケル,エー
分类号 H01L21/304;H01L21/027 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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