发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
明使半导体装置的性能提高。本发明之半导体装置包含:光电二极体PD,其具有电荷累积层(n型半导体区域NW)与表面层(p型半导体区域PR);以及转移电晶体TX,其具有闸极电极Gt与浮置扩散部FD。形成于第1导电型的电荷累积层(n型半导体区域NW)之上的第2导电型的表面层(p型半导体区域PR),系由低杂质浓度的第1副区域PR1与高杂质浓度的第2副区域PR2所构成,第1副区域PR1配置在比第2副区域PR2更接近浮置扩散部FD之侧。 |
申请公布号 |
TW201618166 |
申请公布日期 |
2016.05.16 |
申请号 |
TW104123347 |
申请日期 |
2015.07.20 |
申请人 |
瑞萨电子股份有限公司 |
发明人 |
神野健;后藤洋太郎 |
分类号 |
H01L21/265(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L27/146(2006.01);H01L29/66(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/265(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
周良谋;周良吉 |
主权项 |
一种半导体装置,其包含串联连接的光电二极体以及转移电晶体,其特征为: 该转移电晶体包含:闸极电极,隔着闸极絶缘膜形成于半导体基板的主面;第1导电型的源极区域,配置在该闸极电极的一端侧;以及第1导电型的汲极区域,配置在该闸极电极的另一端侧; 该光电二极体包含:第1导电型的电荷累积层,形成于该半导体基板的内部,亦具有作为该源极区域的功能;以及第2导电型的表面层,其配置在该电荷累积层之上,与该第1导电型为相反导电型; 该表面层,系由低杂质浓度的第1副区域,以及比该第1副区域杂质浓度更高的第2副区域所构成; 该第1副区域,配置在比该第2副区域更接近该汲极区域之侧。 |
地址 |
日本 |