发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 明使半导体装置的性能提高。本发明之半导体装置包含:光电二极体PD,其具有电荷累积层(n型半导体区域NW)与表面层(p型半导体区域PR);以及转移电晶体TX,其具有闸极电极Gt与浮置扩散部FD。形成于第1导电型的电荷累积层(n型半导体区域NW)之上的第2导电型的表面层(p型半导体区域PR),系由低杂质浓度的第1副区域PR1与高杂质浓度的第2副区域PR2所构成,第1副区域PR1配置在比第2副区域PR2更接近浮置扩散部FD之侧。
申请公布号 TW201618166 申请公布日期 2016.05.16
申请号 TW104123347 申请日期 2015.07.20
申请人 瑞萨电子股份有限公司 发明人 神野健;后藤洋太郎
分类号 H01L21/265(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L27/146(2006.01);H01L29/66(2006.01) 主分类号 H01L21/265(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项 一种半导体装置,其包含串联连接的光电二极体以及转移电晶体,其特征为: 该转移电晶体包含:闸极电极,隔着闸极絶缘膜形成于半导体基板的主面;第1导电型的源极区域,配置在该闸极电极的一端侧;以及第1导电型的汲极区域,配置在该闸极电极的另一端侧; 该光电二极体包含:第1导电型的电荷累积层,形成于该半导体基板的内部,亦具有作为该源极区域的功能;以及第2导电型的表面层,其配置在该电荷累积层之上,与该第1导电型为相反导电型; 该表面层,系由低杂质浓度的第1副区域,以及比该第1副区域杂质浓度更高的第2副区域所构成; 该第1副区域,配置在比该第2副区域更接近该汲极区域之侧。
地址 日本