发明名称 测试座
摘要 明系关于一种测试座,包括座体、承载座、导电板体、复数测试探针以及复数绝缘层。本发明以导电板体取代传统的塑胶板体,而解决静电放电的问题,且于测试探针与导电板体之间设置绝缘层而分隔测试探针以及导电板体以避免发生漏电。因此,本发明测试座不但可避免因静电放电而损坏被测物,且可改善测试准确度下降的问题。
申请公布号 TW201617626 申请公布日期 2016.05.16
申请号 TW103138726 申请日期 2014.11.07
申请人 致伸科技股份有限公司 发明人 张倍铭
分类号 G01R1/18(2006.01);G01R1/067(2006.01) 主分类号 G01R1/18(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 一种测试座,用以测试一被测物,且该被测物上具有一电性接点,该测试座包括:一座体;一承载座,设置于该座体上,用以承载该被测物;一导电板体,设置于该座体上且位于该承载座之上方,用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座;一测试探针,穿设于该导电板体上且该测试探针伸出于该导电板体之一下表面,用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触;以及一绝缘层,设置于该测试探针上或该导电板体上,用以分隔该测试探针以及该导电板体。
地址 台北市内湖区瑞光路669号