发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer optimierten Abtastphase zum Abtasten von Daten
摘要 Verfahren zur Bestimmung einer optimierten Abtastphase zum Abtasten von Daten, welche Intersymbolstörungen aufweisen, wobei die abzutastenden Daten durch eine Entzerrung in Abhängigkeit von Empfangsdaten (x(t)) gebildet werden oder die abzutastenden Daten nach der Abtastung entzerrt werden, um die Intersymbolstörungen teilweise zu kompensieren, wobei Entzerrungsparameter der Entzerrung in Abhängigkeit von den Empfangsdaten (x(t)) adaptiert werden, wobei ein eine vertikale Augenöffnung der abzutastenden Daten bezeichnender Öffnungsparameter (m) für verschiedene Abtastphasen (τ) zum Abtasten der Daten bestimmt wird, und wobei die optimierte Abtastphase (τ) in Abhängigkeit von dem Öffnungsparameter (m) zeitlich parallel zu der Adaption der Entzerrungsparameter als diejenige Abtastphase bestimmt wird, bei welcher die vertikale Augenöffnung maximal ist.
申请公布号 DE102004048261(B4) 申请公布日期 2016.05.12
申请号 DE20041048261 申请日期 2004.10.04
申请人 Lantiq Deutschland GmbH 发明人 Prete, Edoardo;Sanders, Anthony Fraser;Neurohr, Norbert;Schöbinger, Matthias, Dr.
分类号 H04L25/03;H03M1/12;H04L25/02 主分类号 H04L25/03
代理机构 代理人
主权项
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